VT-STM

一、设备简介

变温扫描隧道显微镜（VT-STM）

二、设备型号和关键性能参数

型号：ScientaOmicron VT-STM

关键性能参数：

扫描样品台变温范围：60K~800K

图像分辨率：z方向0.01nm，XY方向0.1nm

样品台移动范围：XY方向±4mm

本底真空：MBE制备室<8.0X10-11mBar，STM扫描室<5.0x10-11mBar

噪音水平：<10 pm @1-5Hz, <2 pm @5Hz以上

三、应用范围

高质量原子分辨图像，观察样品表面形貌特征

配备氩离子枪和蒸发源，可制备各类样品并原位表征

AFM扫描模式可以对绝缘体材料表面进行表征

四、设备特色

样品台变温范围大，可测试不同温度下样品性能

大扫描范围和超高分辨

STM和AFM扫描模式切换，适应不同样品类型

原位样品处理（加热、氩离子轰击）

配备主动式减震平台和涡流减震系统，系统噪音低

五、应用领域

纳米材料、拓扑绝缘体、半导体、化合物半导体、二维材料和其他先进材料等